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產(chǎn)品中心
測試項(xiàng)目： 電容器高壓穿擊測試。 電阻偏壓壽命測試。 IC Bias Lift Test。 二極管高溫逆偏壓測試(HTRB)。
測試項(xiàng)目： 發(fā)光二極管亮度壽命試驗(yàn)； MLCC Damp Heating Test； 電阻/電容/電感值溫高濕試驗(yàn)機(jī)。
產(chǎn)品特性： 電壓/電阻/電流 電性量測。 IC Sample表面多CH溫度值量測。 IC 與PC之間,可Read & Write數(shù)據(jù)。 計(jì)算機(jī)監(jiān)控與紀(jì)錄。 可切換各Sample監(jiān)控畫面。
產(chǎn)品特性： 電壓/電阻/電流 電性量測。 IC Sample表面多CH溫度值量測。 IC 與PC之間,可Read & Write數(shù)據(jù)。 計(jì)算機(jī)監(jiān)控與紀(jì)錄。 可切換各Sample監(jiān)控畫面。
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